温度上昇 試験 K

C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)（1）目  次ページ序文 1  適用範囲1  引用規格1  温度変化のある実環境条件 2  一般事項2  温度変化試験の計画2  試験のパラメータ2  試験の目的及び選択3  さらし時間又は浸せき時間の選択 3  移し換え時間の選択4  温度変化試験の適用限界 4  試験の種類を選定するための指針4  初期測定及び最終測定 4  初期測定 4  最終測定 4  試験 5  試験の概要 5  試験手順 5  後処理6  製品規格に規定する事項 6  試験 7  試験の概要 7  試験手順 7  後処理8  製品規格に規定する事項 8  試験 9  試験の概要 9  試験手順 9  後処理10  製品規格に規定する事項 10  試験報告書に記載する事項 11C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)（2）まえがきこの規格は，工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき，財団法人日本電子部品信頼性センター（RCJ）及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。験の規格には，これまで が，この規格の制定によって，この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認について，責任はもたない。の規格群には，次に示す部編成がある。通則第 2-1 部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）第 2-2 部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）第 2-6 部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）加速度（定常）試験方法塩水噴霧試験方法減圧試験方法第 2-14 部：温度変化試験方法（試験記号：N）封止（気密性）試験方法第 2-18 部：耐水性試験及び指針第 2-20 部：試験−試験 T−端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法第 2-21 部：試験−試験 U：端子強度試験方法第 2-27 部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）温湿度サイクル（12＋12 時間サイクル）試験方法面落下，角落下及び転倒（主として機器）試験方法自然落下試験方法温湿度組合せ（サイクル）試験方法第 2-39 部：低温，減圧及び高温高湿一連複合試験低温・減圧複合試験方法高温・減圧複合試験方法接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法接点及び接続部の硫化水素試験方法耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法接点及び接続部の硫化水素試験−指針第 2-47 部：動的試験での供試品の取付方法C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)（3）第 2-48 部：保存の影響をシミュレートするために，環境試験方法に関する JIS 規格群の試験を適用する場合の指針接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温／振動（正弦波）複合試験発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温／振動（正弦波）複合試験塩水噴霧（サイクル）試験方法（塩化ナトリウム水溶液）発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温・高温／振動（正弦波）複合試験の指針はんだ付け性試験方法（平衡法）時刻歴振動試験方法表面実装部品（SMD）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法サインビート振動試験方法混合ガス流腐食試験一連耐候性試験広帯域ランダム振動試験方法及び指針第 2-65 部：音響振動高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気）基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験砂じん（塵）試験第 2-69 部−試験−試験 Te：表面実装部品（SMD）のはんだ付け性試験方法（平衡法）第 2-70 部：指及び手の擦れによる印字の摩滅試験第 2-75 部：ハンマ試験表面実装部品（SMD）の本体強度及び耐衝撃性試験方法第 2-78 部：高温高湿（定常）試験方法第 2-80 部：混合モード振動試験方法（試験記号：Fi）第 2-81 部：衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法第 2-82 部：試験−試験 XW1：電気・電子部品のウィスカ試験方法低温試験及び高温試験を理解するための必す（須）情報第 3-2 部：温度／減圧複合試験を理解するための必す（須）情報機器の耐震試験方法の指針第 3-4 部：高温高湿試験の指針第 3-5 部：温度試験槽の性能確認の指針第 3-6 部：支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認の指針第 3-7 部：支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験（試験 A）及び高温試験（試験 B）の試験槽の温度測定のための指針第 3-8 部：振動試験方法の選択の指針日本工業規格JIS C60068-2-14：2011(IEC 60068-2-14：2009)環境試験方法−電気・電子−第 2-14 部：温度変化試験方法（試験記号：N）Environmental testing-Part 2-14: Tests-Test N: Change of temperature序文この規格は，2009 年に第 6 版として発行された ことなく作成した日本工業規格である。なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。適用範囲この規格は，部品，機器又はその他の製品（以下，供試品という。）が周囲温度の急激な変化に耐える能力を試験する方法について規定する。この試験に必要な試験時間は，供試品の特性によって規定する。注記 なお，この試験は，高温又は低温だけの影響を確かめるためのものではない。このような影響を確かめるためには，高温試験又は低温試験を適用することが望ましい。温度変化試験は，温度変化又は温度変化の繰返しが，供試品に与える影響を確かめることを目的としている。温度変化又は温度変化の繰返しの影響は，次の事項によって決まる。−  高温及び低温での各試験温度−  供試品を高温及び低温に維持する時間−  高温と低温との間の温度変化率−  試験サイクル数−  供試品の内部又は外部へ伝わる熱量注記 ，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of temperature（IDT）なお，対応の程度を表す記号IDT は，とを示す。引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）注記  対応国際規格：2C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）注記  対応国際規格：  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）注記  対応国際規格：(sinusoidal)  （IDT）  環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法注記  対応国際規格：Sealing（IDT）  環境試験方法（電気・電子）温湿度サイクル（12＋12 時間サイクル）試験方法注記  対応国際規格：cyclic (12 h＋12 h cycle)（IDT）温度変化のある実環境条件電子装置及び構成機器の内部では，通常，緩やかな温度変化が起きる。装置内の機器は，電源を投入しない場合，装置外面より緩やかな温度変化を受ける。急激な温度変化は，次の場合に考えられる。−  装置が，暖かな室内から冷えた外気にさらされた場合，又はその逆の場合−  装置が，降雨によって突然冷却された場合，又は冷水に浸された場合−  外部に取り付けられた航空機用電子装置の内部の場合−  輸送及び保管時に条件が変化する場合装置は，電源投入後内部に著しい温度勾配が生じ，その構成機器は，温度変化によるストレスを受ける。例えば，大電力用の抵抗器に近い場所にある構成機器は，その他の部分が冷えていても熱の放射によって表面温度が上昇する。人為的に冷却される構成機器は，冷却装置を起動したときに温度が急激に変化することがある。構成機器の急激な温度変化は，装置の製造工程でも生じることがある。温度変化の回数，温度差及びその時間間隔が重要である。一般事項温度変化試験の計画温度変化試験 Na（規定時間で移し換える温度急変試験，箇条 ，Nb（定速温度変化試験，箇条 参照）及び Nc（二液槽温度急変試験，箇条 へ，規定条件に従った移し換えを交互に行うものである。1 サイクルの試験は，室温から始まり第 1 の試験温度，次に第 2 の試験温度に移行し，室温に戻して終わる。試験のパラメータ試験のパラメータとして，次の項目がある。−  室温（試験室の温度）−  高温 B−  低温 A−  さらし時間又は浸せき時間 1−  高温と低温との移し換え時間又は温度変化率3C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)−  試験のサイクル数高温及び低温とは，多少の時間遅れはあるが，大部分の供試品が到達していると考えられる周囲温度をいう。特例として，供試品の通常の保管又は動作温度範囲を超えた試験温度を規定してもよい。この場合，規定した期間内での厳しい温度変化量が，使用環境より大きいので，試験は加速される。試験の目的及び選択温度変化試験は，次の場合に行うことが望ましい。−  温度が変化している状態で電気的性能を評価する場合（試験 Nb を選択）−  温度が変化している状態で機械的性能を評価する場合（試験 Nb を選択）−  規定サイクル数の温度急変を行った後に電気的性能を評価する場合（試験 Na 又は試験 Nc を選択）−  機構部分，材料及び材料の組合せが，温度急変に耐える適性を評価する場合（試験 Na 又は試験 Nc を選択）−  構成機器の構造が，人為的環境ストレスに耐える適性を評価する場合（試験 Na 又は試験 Nc を選択）この規格で規定している試験方法は，低温及び高温の安定した温度において動作させた場合の材料の諸定数の差異又は電気的性能を評価するためのものではない。さらし時間又は浸せき時間の選択さらし時間又は浸せき時間（1）は，次の点に留意し，事項に基づくことが望ましい。1の開始は，供試品を新しい環境に設置した直後とする。温度が安定した状態とは，供試品と試験媒体との温度差（Δ製品規格に規定した温度差となる場合をいう。温度が安定するまでの時間（s）とは，試験の開始から温度が規定した温度差以内になるまでの時間をいう。温度測定のために，供試品上の任意の 1 点（又は数点）を用いる。さらし時間又は浸せき時間（1）は，供試品の温度が安定するまでの時間（s）よりも長くなければならない。一連の温度変化の様子を，図 BA1Temperature of TimesTemperatureΔ図 ）の決定供試品の温度時間温度4C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)移し換え時間の選択供試品の寸法が大きくて二槽式を用いる場合には，移し換えを 3 分以内ではできないので，試験結果に明らかな影響がない限り，移し換え時間を次のように延長してもよい。2≦0.05 sここに，2：移し換え時間s：供試品の温度が安定するまでの時間温度変化試験の適用限界供試品の内部での温度変化率は，材料の熱伝導，熱容量の空間的分布及び供試品の大きさによって決まる。供試品の表面上のある一点の温度変化は，ほぼ指数関数に従う。大きい供試品の内部では，指数的上昇と減少とが重なり，低温と高温との試験温度の差よりもかなり小さい振幅をもった正弦波に近い変化をする。恒温槽又は液槽内の供試品と周囲の媒体との間の熱伝達のメカニズムを考慮する必要がある。供試品の表面の温度変化率は，液体が動いている場合，非常に大きな値となるが，静止している空気の場合は，非常に小さい値となる。試験媒体として水を用いる場合の二液槽法（試験 Nc）は，供試品に水が浸入し，動作及び特性を悪くする場合があるので，密封した供試品又は水の影響を受けにくい供試品だけに適用することが望ましい。水の影響を受けやすい供試品など特別な場合は，水以外の液体を用いた試験の指定が必要な場合がある。このような試験を計画する場合には，用いる液体の熱伝導の特性が水と異なる場合があるため，このことを考慮しなければならない。注記  二液槽法の適否を評価する場合，試験の種類を選定するための指針試験の厳しさは，温度差の増加，温度変化率の増加，及び供試品への熱伝導によって増加する。温度変化試験は，一連の試験の一部として用いることが望ましい。損傷の種類によっては，この試験の最終測定においても影響が現れないことがある。しかし，引き続き行われる試験，（気密性），どの試験中にだけ，影響が現れることがある。試験 Nc（二液槽法）は，封止（気密性）試験方法の代わりに適用しないほうがよい。温度変化試験を規定する場合，温度変化の条件及び故障メカニズムが供試品の特性に影響を与えることに留意し，初期測定及び最終測定を規定することが望ましい。初期測定及び最終測定試験 Na，Nb 及び Nc では，いずれも同じ初期測定及び最終測定を行う。初期測定製品規格の規定に基づき，目視によって供試品の外観検査を行い，電気的測定及び機械的点検を行う。最終測定製品規格の規定に基づき，目視によって供試品の外観検査を行い，電気的測定及び機械的点検を行う。5C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)試験 試験の概要この試験は，供試品が周囲温度の急激な変化に耐える能力を決定するために行う。この目的を達成するために必要なさらし時間は，供試品の特性によって規定する。供試品は，包装を解いた状態で，かつ，スイッチを切り動作準備状態とするか，又は製品規格に規定した条件のいずれかにしておく。供試品を空気又は不活性ガス中で，低温及び高温に交互に置くことによって急激な温度変化を与える。試験手順試験槽二つの試験槽又は一つの槽で急激に温度変化させることができる試験槽を用いる。二つの試験槽を用いる場合，それぞれ低温用及び高温用とし，製品規格に規定した時間内に一つの槽から他の槽へ供試品を移すことができるように配置しなければならない。移し換えの方法は，手動又は自動のいずれの方法でもよい。試験槽は，供試品が置かれている全ての場所で，試験に必要な温度が維持できなければならない。供試品を入れた後，さらし時間の 10 %以下の時間で槽内温度が製品規格に規定する許容差内に収まらなければならない。供試品の取付け又は支持製品規格に規定がない場合，取付具又は支持具は，熱伝導の小さいものを用い，取付具などからの熱影響を受けにくいようにする。複数の供試品を同時に試験する場合は，供試品間及び供試品と槽の内壁との間で空気の流れを妨げないように供試品を配置する。厳しさ試験の厳しさは，低温，高温，移し換え時間，さらし時間及びサイクル数の組合せで定める。低温 Aは，製品規格の規定によるものとし，試験温度は，温度から選択するとよい。高温 Bは，製品規格の規定によるものとし，試験温度は，温度から選択するとよい。低温及び高温の各さらし時間 1は，供試品の熱容量を考慮する必要がある。さらし時間 1は，3 時間，2時間，1 時間，30 分間若しくは 10 分間のいずれか，又は製品規格で指定してもよい。製品規格にさらし時間の規定がない場合には，3 時間とする。サイクル数は，製品規格に規定がない場合，5 サイクルとする。注記 10 分間のさらし時間は，小さな供試品の試験に適用する。前処理試験開始時には，供試品及び試験槽内の温度は，25  ℃±5  ℃（試験室の温度）とする。製品規格に規定がある場合，供試品を規定の動作状態にしなければならない。注記  〜35  ℃と規定してある。試験サイクル次の規定は二槽式を想定したものであるが，一槽式で行う場合でも同様である。温度 Aの低温槽の中に供試品を入れる。低温槽の槽内温度 Aを規定のさらし時間 1の間維持する。供試品を槽に入れてから槽内温度が安定する6C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)までの時間は，1に含める。ただし，この時間は，1の 10 %以下とする（。さらし時間は，供試品を槽に入れた時からとする。次に，温度 Bの高温槽の中に供試品を入れる。低温槽から高温槽への移し換え時間 2は，3 分間以内とするのが望ましい。移し換え時間 2は，供試品を一方の槽から取り出す時間，移し換えのために試験室の周囲温度にある時間及び他方の槽に入れる時間からなる。注記  供試品が大きい場合，製品規格又は仕様で移し換え時間を延ばしてもよい（高温槽の槽内温度 Bを，規定の試験時間 1の間維持する。供試品を槽に入れてから槽内温度が安定するまでの時間は，1に含める。ただし，この時間は 1の 10 %以下とする。試験時間は，供試品を槽に入れた時からとする。次のサイクルでは，供試品を温度 Aの低温槽に移す。この場合の移し換え時間 2は 3 分間以下とするのが望ましい。1 サイクルは，二つのさらし時間 1と二つの移し換え時間 2とからなる（図 BA＜1/10A112＜1/10B2A：第 1 サイクルの開始点 注記  破線のカーブは，槽内温度の変化を示す。図 最終サイクルの後，供試品の後処理を行う。後処理試験後，供試品の温度が安定するまで十分な時間，標準大気状態に維持しなければならない。製品規格に，供試品の種類に応じた後処理時間を規定してもよい。製品規格に規定する事項この試験を製品規格に規定する場合，できるだけ次の事項を規定する。試験の種類前処理初期測定取付けの詳細又は支持材温度第 1 サイクル時間7C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)低温 A高温 Bさらし時間 1サイクル数試験中の測定及び／又は負荷後処理最終測定その他，受渡当事者間で合意した手順上の変更事項試験 試験の概要この試験は，供試品が周囲温度の変化する条件に耐える能力及び／又は機能を果たす能力を決定するために行う。供試品は，包装を解いた状態で，かつ，スイッチを切り動作準備状態とするか，又は製品規格に規定した条件のいずれかにしておく。供試品を規定の割合で温度が変化する試験槽内に置くことによって，空気中の温度の変化にさらす。このさらし時間中，供試品の性能を測定してもよい。試験手順試験槽この試験に用いる槽は，供試品が置かれている有効空間で，次に示す条件で温度サイクルを構成できるものとする。試験に必要な低温が維持できる。試験に必要な高温が維持できる。試験に必要な温度変化率で低温から高温，又は高温から低温へ変化できる。供試品の取付け又は支持製品規格に規定がない場合，取付具又は支持具は熱伝導の小さいものを用い，取付具などからの熱の影響を受けにくいようにする。複数の供試品を同時に試験する場合は，供試品間及び供試品と槽の内壁との間で空気の流れを妨げないように供試品を配置する。厳しさ試験の厳しさは，低温，高温，温度変化率，さらし時間及びサイクル数の組合せで定める。低温 Aは，製品規格の規定によるものとし，するとよい。高温 Bは，製品規格の規定によるものとし，するとよい。槽内温度は，Aと Bとの温度差（D）の 90 %と 10 %との間で測定した温度変化率（許容差 20 %以下）で上昇又は下降させる。製品規格に規定がない場合，推奨値は，次の値とする。1±0.2 K/min，3±0.6 K/min，5±1 K/min，10±2 K/min，8C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)15±3 K/min低温及び高温の各さらし時間 1は，供試品の熱容量を考慮する必要がある。さらし時間 1は，3 時間，2時間，1 時間，30 分間若しくは 10 分間のいずれか，又は製品規格で指定してもよい。製品規格にさらし時間の規定がない場合には，3 時間とする。サイクル数は，製品規格に規定がない場合，2 サイクルとする。前処理試験開始時には，供試品及び試験槽内の温度は，25  ℃±5  ℃（試験室の温度）とする。製品規格に規定がある場合，供試品を規定の動作状態にしなければならない。注記  〜35  ℃と規定してある。試験サイクル槽内温度を，規定の低温 Aまで規定の温度変化率で下げる（図 槽内温度が安定した後，規定した 1時間，供試品を低温にさらす。槽内温度を，規定の高温 Bまで規定の温度変化率で上げる（図 槽内温度が安定した後，規定した 1時間，供試品を高温にさらす。槽内温度を，25  ℃±5  ℃（試験室の温度）で規定の温度変化率で下げる（図 以上の手順を 1 サイクルとする。A：第 1 サイクルの開始点図 後処理試験後，供試品の温度が安定するまで十分な時間，標準大気状態に維持しなければならない。製品規格に，供試品の種類に応じた後処理時間を規定してもよい。製品規格に規定する事項この試験を製品規格に規定する場合，できるだけ次の事項を規定する。試験の種類前処理初期測定BAA11第 1 サイクル第 2 サイクル時間槽9C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)取付けの詳細又は支持材低温 A高温 Bさらし時間 1温度変化率サイクル数試験中の測定及び／又は負荷後処理最終測定その他，受渡当事者間で合意した手順上の変更事項試験 試験の概要この試験は，供試品の温度急変に耐える能力を決定するために行う。この試験方法は，厳しい熱衝撃を与えるため，ガラス−金属封止などの供試品にも適用できる。供試品を二つの液槽に交互に浸せきする。一方の槽には温度 Aの低温の液体，他方の槽には温度 Bの高温の液体を満たしておく。試験手順試験槽供試品を容易に浸せきでき，かつ，迅速に移し換えできる低温及び高温の二つの液槽を用いる。低温液槽には，製品規格で規定した低温 Aの液体を満たす。温度の規定がない場合は，0  ℃の液体とする。高温液槽には，製品規格で規定した高温 Bの液体を満たす。温度の規定がない場合は，100  ℃の液体とする。液槽は，試験中，低温液槽では Aよりも 2 K を超える温度上昇がないものとし，高温液槽では Bよりも 5 K を超える温度低下がないものとする。試験に用いる液体は，供試品に用いられている材料及び表面処理に影響を与えないものとする。注記  液体の熱伝導率は，その種類によって異なり，特定の温度範囲に対しては試験の厳しさに影響する。したがって，特別な場合は，用いる液体を製品規格に規定することが望ましい。厳しさ試験の厳しさは，液槽の温度，移し換え時間 2及びサイクル数で規定する。製品規格には，浸せき時間 1の値を規定する。サイクル数は，製品規格に規定がない場合，10 サイクルとする。試験準備供試品の包装を解いた状態で試験を行う。試験サイクル試験室の温度にさらした供試品を，製品規格に規定した温度 Aの低温液槽に浸す。供試品を低温液槽に浸せき時間 1の間浸す。供試品を低温液槽から取り出し，製品規格に規定した温度 Bの高温液槽に移す。この移し換え時間 2は，製品規格に規定する。10C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)供試品を高温液槽に浸せき時間 1の間浸す。供試品を高温液槽から取り出す。高温液槽から低温液槽への移し換え時間 2は，製品規格で規定する。二つの浸せき時間 1及び二つの移し換え時間 2を 1 サイクルとする（図 槽内温度最終サイクルの終了後，供試品に対して後処理を行う。A：第 1 サイクルの開始点図 後処理試験後，供試品を試験室の温度にさらす。液滴は取り除く。クリーニングが必要な場合，方法を製品規格に規定する。製品規格に，供試品の種類に応じた後処理時間を規定してもよい。製品規格に規定する事項この試験を製品規格に規定する場合，できるだけ次の事項を規定する。試験の種類前処理初期測定取付けの詳細又は支持材低温液槽の温度 A高温液槽の温度 B浸せき時間 1サイクル数用いる液体試験中の測定及び／又は負荷クリーニング方法（必要がある場合）後処理最終測定その他，受渡当事者間で合意した手順上の変更事項BAA1122第 1 サイクル時間槽内温度11C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)試験報告書に記載する事項試験報告書には，少なくとも次の項目を記載しなければならない。顧客  （名称及び所在地）試験所  ［名称及び所在地並びに認定状況（ある場合）］試験日  （試験を実施した日付）試験の種類  （試験記号 Na，Nb 又は Nc）試験の目的  （開発試験，認証試験など）試験規格及び発行年  （試験所の試験手順書  （手順書番号及び版）供試品の詳細  （図面，写真，数量など）試験槽の詳細  （製造元，型番，製造番号など）試験装置の性能  （温度制御設定値，エアフローなど）風速及び向き  （供試品に当たる風の風速及び向き，ただし Na 及び Nb の場合）測定系の不確かさ  （不確かさのデータ）校正データ  （前回及び次回の校正日）初期測定，中間測定及び最終測定要求する厳しさ  （製品規格による）試験の厳しさ  （測定点，データなど）供試品の性能  （機能試験の結果など）試験中の観察事項及び行った処置  （特記事項など）試験の要約配付先注記  試験報告書に添付できるように，試験記録を残すとよい。参考文献  注記

温度の単位 温度の単位は，ケルビン (k) （熱力学温度の単位）又はセルシウス度 (℃) （セルシウ. 熱電対とは二種類の異なる金属導体で構成された温度センサのことです。 主に工業用として使用されるこの熱電対は、他の温度計（水銀計、サーミスタなど）と比較して下記のような特長があ …

現在、摂氏0度（0°c）は273.15ケルビン度（k）と定義されている。1 kと1 °cの温度差は同等で、各温度計のメモリの幅は同じである。 これは以前水の沸点と定義されていた100°cが、現在は373.15 kと定義されることを意味する。 3. c 60068-2-14 ：2011 (iec 60068-2-14：2009) − 試験のサイクル数. を採用している。 注意：分数の結果は最も近い1/64に丸められます。より正確な答えを求めるには、上記のオプションから「十進法」を選択してください。注意：上記のオプションから必要な有効桁数を選択することによって、答えの精度を上げるか下げることができます。注意：純正な十進法での結果にするには、上記のオプションから「十進法」を選択してください。セルシウス度の定義に基づいた実験により、絶対零度は-273.15ºCであること証明されている。 当初は水の凝固点（その後氷の融点）で定義さていたセルシウス度は、今では正式に現在、摂氏0度（0°C）は273.15ケルビン度（K）と定義されている。1 Kと1 °Cの温度差は同等で、各温度計のメモリの幅は同じである。 これは以前水の沸点と定義されていた100°Cが、現在は373.15 Kと定義されることを意味する。摂氏温度の尺度は、比率システムではなく、インターバルシステムで、それは絶対的ではなく、相対的な尺度に従うことを意味する。20°Cと30°Cの間の温度間隔が30°Cと40°Cと同様だが、40°C が20°C の倍の空気熱エネルギーを持たないことから理解できる。1°C（摂氏） の温度差は、1.8°F（華氏）の温度差に相当する。 このサイトは、Wight Hat Ltd. ©2003-2020.よって所有し、維持されています。諸条件は このサイト上のメートル法計算や表の精度を確保するために努力していますが、発生したいかなるエラーの責任の保障出来かねます。 このサイト上のエラーを見つけた場合は、このページの上部のお問い合わせから報告して頂ければ幸いです。できるだけ早くそれを修正するように努力いたします。最終更新日：: 18-02-2020

表3.2-10 連続負荷の油入変圧器の温度上昇限度(jec-2200(2017)) 変 圧 器 の 部 分 温度測定方法 温度上昇限度 (1)[K] 巻 線 油自然循環の場合(on,of) 抵抗法 55 油強制循環の場合(od) 抵抗法 60 油 本体タンク内の油が直接外気と接触する場合 温度計法 (2) 50

ス温度の単位）で表す。 備考1.

国際標準化機構 (iso) では，七つの基本量と組立量とによって物理量の体系を表現する方法.

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